europeisk patentskrift

Transkript

1 (12) Oversettelse av europeisk patentskrift (11) NO/EP B1 (19) NO NORGE (1) Int Cl. G01N 21/03 (06.01) G01N 21/31 (06.01) G01N 21/3 (06.01) Patentstyret (21) Oversettelse publisert (80) Dato for Den Europeiske Patentmyndighets publisering av det meddelte patentet (86) Europeisk søknadsnr (86) Europeisk innleveringsdag (87) Den europeiske søknadens Publiseringsdato () Prioritet , DE, (84) Utpekte stater AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR (73) Innehaver GFG Gesellschaft für Gerätebau mbh, Klönnestrasse 99, Dortmund, Tyskland (72) Oppfinner Hübner, Hans-Jörg, Dipl.-Kfm., Pfarrer-Kneipp-Strasse 9, Dortmund, Tyskland Krage, Rainer, Zur Schultenwiese 33, 8313 Herdecke, Tyskland (74) Fullmektig Tandbergs Patentkontor AS, Postboks 170 Vika, 0118 OSLO, Norge (4) Benevnelse Optisk analyseapparat (6) Anførte publikasjoner DE-C EP-A US-A US-A US-B WO-A-98/

2 1 Beskrivelse [0001] Oppfinnelsen angår et optisk analyseapparat etter prinsippet av strålingsabsorbsjon med et hus med i det minste et strålingstransparent huselement, med i det minste en strålingskilde og en tilordnet reflektor med i det minste en første detektor og en andre detektor og med en utenfor huset anordnet ekstern reflektor. Fra den eksterne reflektoren og det strålingstransparente huselement dannes et absorbsjonsrom, hvor en fra strålingskilden og reflektoren emittert målestråle etter refleksjon ved den eksterne reflektoren igjen inntrer inn i huset. 1 [0002] Beslektede analyseapparater fungerer etter prinsippet av strålingsabsorbsjon av materie, som gjennomtrenges av elektromagnetisk stråling. Ved dette handler det seg om en bredbåndstråling, som i det minste dekker det frekvensbåndet, i hvilket et stoff som skal detekteres virker strålingsabsorberende. Her viser hvert stoff som skal identifiseres et karakteristisk absorpsjonsspektrum. Den emitterte elektromagnetiske stråling er etter gjennomløpet gjennom absorpsjonsrommet, i hvilket stoffet som skal identifiseres befinner seg, i bestemte, vanligvis smalbånds absorpsjonsbånd i forhold til strålingseffekten tilstøtende frekvensbånd forholdsvis sterk svekket. Gjennom intensiteten av den relative svekkingen i absorpsjonsbåndet er det mulig å gjøre utsagn om bestemte stoffkonsentrasjoner, mens gjennom opptak av et absorpsjonsspektrum tilstedeværende stoffer kan identifiseres. 2 [0003] Beslektede analyseapparater brukes spesielt til måling av toksiske og eksplosjonsfarlige gasser. Her utnyttes den for mange gasser karakteristiske absorpsjon i det infrarøde bølgelengdeområde. Denne absorpsjonen av gasser og damper er både med hensyn til sin spektrale spredning, og med hensyn til graden av absorpsjonen meget stoffspesifikk. Derfor kan den gasspesifikke absorpsjon benyttes til identifisering og konsentrasjonsbestemmelse. Til det brukes den såkalte ikke-dispersive infrarødanalysen (NDIR). Denne klarer seg uten spektral oppløsning av den emitterte elektromagnetiske stråling. Istedenfor jobbes med selektive detektorer, som kun er følsom i et begrenset strålingsbånd, nemlig i det område, hvor stoffet som skal identifiseres er strålingsabsorberende. Til det brukes optiske filtre med smalbånds transmisjon, for å

3 2 selektere strålingen av en i første omgang spektralt bredbåndet lyskilde slik, at denne stemmer overens med absorpsjonen gassen som skal måles. Intensiteten av den infrarøde strålingen registreres deretter med pyroelektriske detektorer eller termosøyler og evaluert av en etterfølgende elektronikk, oftest med en mikrokontroller. 1 [0004] Imidlertid kan en ved å bruke kun én detektor i praksis ikke komme med en uttalelse om den faktiske konsentrasjonen av et stoff som skal identifiseres, siden det ikke kan utelukkes, at en svekking av målestrålen også kan komme av andre årsaker, for eksempel av forurensinger i absorbsjonsrommet eller av tilstedeværelsen av forstyrrende gasser. Også aldringsbedingede intensitetssvingninger av strålingskilden lar seg ikke identifisere med kun én detektor. Derfor er det i teknikkens stand kjent å bruke til kompensasjon av de tidligere nevnte effektene i det minste to detektorer, hvorav én detektor er følsom i absorpsjonsbåndet av stoffet som skal identifiseres og den andre detektoren er følsom i et frekvensbånd, hvor ingen absorpsjon gjennom andre stoffer er mulig (referansedetektor og måledetektor). Bestemte effekter som forfalsker målingen kan kompenseres ved at det av måledetektoren utvunne signal relateres til signalet utvunnet av referansedetektoren. [000] Slike dobbelbølgelengdesystemer brukes i industrien til person- og anleggsvern mot toksiske og/eller eksplosive gasser og damper. Ofte er de her integrert i bærbare apparater, slik at det finnes et behov for små og energibesparende systemer. Likeså finnes ofte et behov å kunne måle samtidig flere optisk detekterbare gasskomponenter med kun ett apparat. Dette gjelder eksempelvis ved overvåkning av eksplosjonsfaren gjennom hydrokarboner og samtidig måling av toksisk CO2. 2 [0006] Det er kjent i teknikkens stand å bruke to uavhengige innretninger i et apparat. DE A1 foreslår en sensorinnretning til registrering av gasskonsentrasjonen som er utstyrt med flere selektive strålingsdetektorer, som er anordnet ringformet i ulike avstander rundt en bredbånds strålingskilde. Gjennom den sirkelformede oppstillingen av detektorene med mer eller mindre henholdsvis rettlinjede, ufoldede stråleveier er oppstillingen forholdsvis plasskrevende og ekstensiv. På de henholdsvise

4 3 detektorene treffer kun et lite romvinkelområde av strålingskilden. Derfor er energirike strålere nødvendige for å oppnå et godt signal-/støyforhold. [0007] Også ifølge KR BA foreslås en oppbygging med to detektorer og ulik lengder strålveier. Også ved denne anordningen treffer bare en liten del av strålingen på detektorene, slik at konsekvensen er høyt energiforbruk. [0008] EP A1 beskrive et optisk analyseapparat med et gasstett hus med minst en første strålingskilde og en tilordnet første reflektor og en andre strålingskilde og en tilordnet andre reflektor, med minst en første detektor og en andre detektor og med en utenfor huset anordnet ekstern reflektor. Strålingskildene og detektorene er anordnet innenfor huset. Avstanden A til den eksterne reflektoren fra huset henholdsvis fra det strålingstransparente huselement kan innstilles. Gjennom dette kan det optiske analyseapparat tilpasses ulik sterk absorberende stoffer. 1 [0009] WO 98/ A1 fremlegger et optisk analyseapparat etter prinsippet av strålingsabsorbsjon, hvor den eksterne reflektoren oppviser minst en utsparing som ikke reflekterer målestrålen og hvor det er romlig bak dette anordnet minst en tredje detektor. 2 [00] Utover dette har man det problem, at kun svak absorberende komponenter trenger sammenliknet med sterk absorberende komponenter en lengre absorpsjonsvei for å oppnå et signal med lik styrke ved samme stoffkonsentrasjon. Avhengig av målekomponent og konsentrasjonsområde som skal detekteres oppstår slik alltid en ideal kombinasjon av målebølgelengdeområde og absorpsjonsvei. [0011] Her kommer foreliggende oppfinnelse inn, ved at den eksterne reflektoren oppviser minst en utsparing som ikke reflekterer målestrålen og hvor det der eller romlig bak er anordnet minst en tredje detektor. Med dette oppnås at ulike komponenter med ulike absorpsjonsdistanser kan registreres ved optimert utnyttelse av strålingsintensiteten. Det blir dermed skapt en allsidig, på ulike måleoppgaver tilpasningsdyktig anordning. En del av den med fordel kollimerte strålingen treffer gjennom minst en

5 4 utsparing i den eksterne reflektoren på minst en tredje detektor. Den resterende strålingen reflekteres på det krummede speil og gjennomløper absorbsjonsrommet en andre gang, for deretter å treffe på minst en første og andre detektor. Her måles strålingsintensiteten av de enkelte detektorer i ulike bølgelengdeområder. Til dette anordnes interferensfiltre med bandpasskarakteristikk foran detektorene. Minst et gjennomgangsbånd til interferensfiltrene velges som referansekanal slik, at det i dette bånd ikke skjer noen spektralselektiv absorpsjon gjennom mediet som skal detekteres eller øvrige i målemediet omfattede komponenter. [0012] Minst et ytterlig gjennomgangsbånd ligger derimot som målekanal i det spektrale absorpsjonsbånd av et stoff som skal identifiseres. Ut fra signalandelene til detektorene dannes måleverdien fortrinnsvis gjennom kvotientdannelse, som utgjør et mål for konsentrasjonen av stoffet som skal undersøkes. 1 [0013] Gjennom anordningen av flere detektorer på begge ender av absorpsjonsrommet er den tredje eller ytterlige detektorer optimal anvendelig for sterk absorberende stoffer, mens den andre detektoren tjener optimalt for mindre absorberende stoffer, siden målestrålen etter å ha truffet den eksterne reflektoren må gå en gang til gjennom absorbsjonsrommet, før den treffer på den andre detektor. Sistnevnte gjelder også for den første detektoren (referansedetektor). 2 [0014] Alternativt kan den tredje detektoren også brukes til deteksjon i det høye konsentrasjonsområde og den andre detektoren til deteksjon i det lave konsentrasjonsområde av det samme stoff. Likeså kan istedenfor den andre, tredje og ytterlige en detektor også brukes dobbeldetektorer. [001] Valgfritt kan ved begge detektorposisjonene en referansekanal brukes gjennom en første detektor. Ved liten fare for ikke-homogen forurensning er det nok med kun én referansekanal. [0016] Med fordel kollimeres den fra strålingskilden utgående strålingen ved hjelp av sine tilordnede reflektoren. Til dette er den til strålingskilden tilordnede reflektoren

6 utformet som speil slik, at strålingen føres på den eksterne reflektoren og den tredje detektoren. Dette kan eksempelvis oppnås gjennom en parabolsk speiloberflate, men også gjennom et symmetrisk konkavspeil, særlig en samle- eller hulspeil. [0017] Ved den eksterne reflektoren er speilflaten utformet slik, at en størst mulig andel av den innfallende strålingen føres til den første og andre detektoren. Dette kan i en enkel utførelse være en sfærisk speil, særlig en kulespeil, til belysning av en sirkelsymmetrisk detektor. Speilene kan optimaliseres slik, at både de kun fra den eksterne reflektoren reflekterte strålene og de fra den til strålingskilden tilordnede reflektoren og fra den eksterne reflektoren reflekterte strålene godt belyser detektorene. 1 [0018] Gjennom en astigmatisk krumning kan en elliptisk stråleprofil genereres, for f. eks. å belyse to ved siden av hverandre liggende detektorer. Detektorene ligger ved dette eksempelvis foran den primære linjeavbildningen av de enkelt reflekterte strålene og bak den primære linjeavbildningen av de flerfoldig reflekterte strålene. [0019] For å utnytte strålingen til strålingskilden bedre, kan den indre veggen til absorpsjonsrommet i tillegg være forspeilet og utformet slik, at en størst mulig andel av strålingen treffer på den tredje detektoren med få refleksjoner. Til dette kan eksempelvis en del av den forspeilede veggen også være elliptisk utformet, hvor fokalpunktene til ellipsoiden ligger slik i området til strålingskilden og til den tredje detektoren, at en størst mulig romvinkel av strålingen etter kun en refleksjon går fra strålingskilden til den tredje detektoren. 2 [00] Til bruk i eksplosjonsfarlig omgivelse kan analyseapparatet være utformet i ulike eksplosjonsklasser. Slik kan strålingskilden eksempelvis monteres trykkfast mot absorbsjonsrommet med en safir-skive i henhold til eksplosionsvernstandarder. Likeså er det mulig, å utføre strålingskilden i en høyere sikkerhetsstandard. Særlig kan en utførelse av strålingskilden gjennomføres med økt sikkerhet "e" ifølge IEC Som infrarødstrålingskilde kan særlig brukes miniaturiserte signallamper. Disse klassifiseres som øvrige elektriske driftsmidler og må etter meningen tilsvare de relevante konstruksjonskrav. Slik kan strålingskilden eksempelvis egensikker forsynes over mekanisk

7 6 ubelastede, loddede tilkoblingsledninger fra et kretskort. Den egensikre forsyningsspenning begrenses her slik, at den maksimal oppnåelig overflatetemperaturen av glasskolben underskrider de lovlige verdier for å unngå tenning av eksplosive gasser. [0021] Strålingskilden anordnes spesiell i en metallkapsling, særlig av rustfritt stål, med et gjennomføringsstøp og formsluttende safir-skive, slik at også ved en støtprøve med eksempelvis 4 joule støtenergi glasskolben ikke skades. Til dette monteres glasskolben slik at det overholdes minst ca. 1 mm avstand til safir-skiven. Strålingskilden fikseres her i kapslingen med elastiske, støtenergi absorberende materialer, f. eks. et silikonlim slik at glasskolben ikke får umiddelbar kontakt med det omgiende støp. 1 [0022] Oppbyggingen av apparatet ellers kan utformes slik, at det oppnås lavest mulige diffusjonstider for stoffutskiftingen i absorbsjonsrommet. Særlig kan absorbsjonsrommet beskyttes mot forurensning med en gasspermeabel membran. Alternativt kan analyseapparatet også utføres trykkfast som helhet, eksempelvis kan absorbsjonsrommet beskyttes gjennom en flammegjennomslagssikring, f. eks. sintermetall, et tilsvarende hus og et kapslingsstøp. De konstruktive krav til en trykkfast kapsling "d" går frem av IEC Likeså er det mulig å kombinere redundant to uavhengige eksplosjonsklasser for å øke sikkerheten og for å muliggjøre bruken i ex-sone 0. 2 [0023] Som detektorer kan det eksempelvis brukes pyroelektriske eller termofile detektorer. For å minske forstyrrelser i signalene er det en fordel, å utføre signalforsterkningen nærmest mulig detektorene. Sensorelementene kan karakteriseres med hensyn til signalkarakteristikken og trykk- og temperaturavhengighetene; den tilsvarende informasjonen kan lagres i et elektronisk minne tilordnet detektoren. Til dette kan den detektoren i en foretrukket utførelsesform fremstilles med tilhørende elektronikk som inneholder både signalregenerering og signalbearbeidelse og ytterlige sensorelementer for temperatur, fuktighet og trykk. [0024] Oppfinnelsen forklares nærmere nedenfor med henvisning til patenttegningene som eksempel. Disse viser i:

8 7 Figur 1 et tverrsnitt gjennom et optisk analyseapparat iflg. oppfinnelsen, Figur 2 en plantegning av strålingskilden, den tilordnede reflektoren og den første og andre detektoren, Figur 3 en plantegning av den eksterne reflektoren med utsparinger for en tredje dobbeldetektor, Figur 4 en plantegning av den eksterne reflektoren med utsparinger for en tredje og fjerde detektor, Figur en skjematisk synsvinkel av strålegangen fra strålingskilden over den eksterne reflektoren til den andre detektoren, Figur 6 en skjematisk synsvinkel av strålegangen ved anvendelse av en astigmatisk krummet, ekstern reflektor, Figur 7 en skjematisk synsvinkel av strålegangen ved bruk av en parabolisk formet, til strålingskilden tilordnet reflektor. 1 2 [002] Et generelt med 1 betegnet optisk analyseapparat etter prinsippet av strålingsabsorbsjon oppviser et hus 2 med i det minste et strålingstransparent huselement 3 og en strålingskilde 4 og en til den tilordnet reflektor og minst en første detektor 6 og en andre detektor 7 og en utenfor huset 2 anordnet ekstern reflektor 8. Av det strålingstransparente huselement 3 og den eksterne reflektoren 8 og sideveggene 17, 18 dannes et absorbsjonsrom 9. En fra strålingskilden 4 og den tilordnede reflektoren utsendte målestråle kastes tilbake etter refleksjon ved den eksterne reflektoren 8 inn i huset 2, som antydet med henvisningstegn 11, mens en kun fra strålingskilden 4 utgående målestråle ikke reflekteres fra den tilordnede reflektoren, men kastes tilbake kun av den eksterne reflektoren 8 (vist med prikker i figur ). Den eksterne reflektoren 8 oppviser i følge oppfinnelsen minst en ikke reflekterende utsparing 12. Foran eller romlig bak er det anordnet en tredje detektor 13. Denne tredje detektoren 13 er utstyrt med et interferensfilter 14 mens den første detektor 6 og den andre detektor 7 også er utstyrt med interferensfiltre 1, 16. Ved dette er gjennomgangsbåndet til interferensfilteret 1 foran den første detektoren 6 valgt slik, at det i dette bånd ikke skjer spektralselektiv absorpsjon gjennom et medium som skal detekteres eller øvrige i målemediet omfattede komponenter. Derimot er transparentområdene til interferensfiltrene 16 foran den andre detektoren 7 og til interferensfiltrene 14, 14' foran den

9 8 tredje og i tilfelle fjerde detektoren 13, 13' utformet som målekanal i det spektrale absorpsjonsbånd av et stoff som skal påvises. [0026] Ut fra signalandelene til detektorene 6, 7 og 13 og i tilfelle 14 dannes måleverdien fortrinnsvis gjennom kvotientdannelse, som utgjør en verdi for kon- sentrasjonen av stoffet som skal undersøkes. 1 [0027] Gjennom plasseringen av detektorene 7 og 13 ved begge ender av absorpsjonsrommet 9 kan den tredje detektoren 13 best brukes for sterk absorberende stoffer, mens den andre detektoren 7 er optimal for mindre absorberende stoffer. Alternativt kan den tredje detektoren 13 brukes til deteksjon i det høye konsentrasjonsområdet, og den andre detektoren 7 til deteksjon i det lave konsentrasjonsområde av det samme stoffet. Valgfritt kan på begge detektorposisjonene, det vil si også innenfor eller bak den eksterne reflektoren 8, brukes en referansekanal, eller det brukes kun en første detektor 6 som referansekanal til deteksjon og kompensasjon av effekter, særlig ved liten fare for ikke-homogene forurensinger. [0028] Den til strålingskilden 4 tilordnede reflektoren er utformet slik, at strålingen fra strålingskilden 4 føres til den eksterne reflektoren 8 og den tredje detektoren 13. Dette kan eksempelvis oppnås gjennom en parabolsk speiloberflate. Speilflaten til den eksterne reflektoren 8 er utformet slik, at en størst mulig andel av den innfallende strålingen føres til den andre detektoren 7. Dette kan i en enkel utførelse være et sfærisk speil til belysning av en sirkelsymmetrisk detektor. 2 [0029] Speilene og 8 kan videre optimaliseres dit hen, at både de kun av den eksterne reflektoren 8 reflekterte strålene 11 (vist stiplet), og de av den til strålingskilden 4 tilordnede reflektoren og den eksterne reflektoren 8 reflekterte strålene (vist prikket) belyses godt av den første og andre detektoren 6 og 7, som vist i figur. [00] Gjennom en astigmatisk krumning kan en oppnå en elliptisk stråleprofil, for eksempelvis å belyse begge de ved siden av hverandre liggende detektorene 6 og 7, som vist i figur 2. Detektorene 6 og 7 ligger ved dette eksempelvis foran den primære

10 9 linjeavbildningen av de enkelt reflekterte strålene og bak den primære linjeavbildningen av de flere ganger reflekterte strålene 11, som vist i figur 6. [0031] For å utnytte strålingskilden 4 optimalt, kan den indre veggen 17, 18 av absorpsjonsrommet 9 i tillegg være forspeilet og utformet slik, at en størst mulig andel av strålingen treffer med få refleksjoner på det tredje detektorelementet 13. Til dette kan eksempelvis en del av den forspeilede veggen 17, 18 være elliptisk utformet, som vist i figur 7. Her ligger fokalpunktene 21, 22 til ellipsoiden 23 i området til strålingskilden 4 og til den tredje detektoren 13 slik, at en størst mulig romvinkel av strålene 24 etter kun en refleksjon på den forspeilede sideveggen 17, 18 går fra strålingskilden 4 til den tredje detektoren 13, som vist i figur [0032] Det strålingstransparente huselement 3 kan eksempelvis være utformet som en safir-skive for å gjøre strålingskilden 4 trykkfast i henhold til eksplosionsvernstandarder. Strålingskilden 4 kan også utføres med økt sikkerhet. Til dette blir strålingskilden 4 forsynt egensikker over mekanisk ubelastede loddede tilkoblingsledninger 24 fra et kretskort 2. Den egensikre forsyningsspenning blir begrenset slik, at den maksimal oppnåelige overflatetemperaturen av glasskolben til strålingskilden 4 underskrider de tillatte verdiene for å unngå å tenne eksplosive gasser. Strålingskilden 4 er plassert i et metallhus 2, som kan bestå av for eksempel rustfritt stål, og oppviser et gjennomføringsstøp og en som form-tilpasset safir-skive 27 utformet strålingstransparent huselement 3. Mellom glasskolben til strålingskilden 4 og safir-skiven 3 overholdes da en avstand på minst ca. 1 mm, slik at det også ved en støtprøving med 4 joule støtenergi ikke opptrer skade på glasskolben. Strålingskilden 4 er fiksert i huset med elastisk, støtenergiabsorberende materiale, eksempelvis et silikonlim 26, slik at denne ikke umiddelbar får kontakt med det omgiende støp. [0033] Absorbsjonsrommet 9 selv kan beskyttes med en gasspermeabel membran mot forurensning. Forøvrig utføres analyseapparatet 1 slik, at det oppnås lavest mulige diffusjonstider til stoffutskiftingen i absorbsjonsrommet 9.

11 P a t e n t k r a v 1. Optisk analyseapparat (1) etter prinsippet av strålingsabsorbsjon med et hus (2) med minst et strålingstransparent huselement (3), med minst en strålingskilde (4) og en den tilordnet reflektor (), med minst en første detektor (6) og en andre detektor (7) og med en utenfor huset (2) anordnet ekstern reflektor (8), hvor det dannes et absorbsjonsrom (9) av den eksterne reflektoren (8) og det strålingstransparente huselementet (3), og en fra strålingskilden (4) og reflektoren () emittert målestråle () etter refleksjon på den eksterne reflektoren (8) igjen inntrer inn i huset (2), karakterisert ved at den eksterne reflektor (8) oppviser minst en utsparing (12) som ikke reflekterer målestrålen og hvor inn i den eller romlig bak er anordnet minst en tredje detektor (13) Optisk analyseapparat ifølge krav 1, karakterisert ved at den fra strålingskilden (4) utgående stråling kollimeres ved hjelp av sin tilordnede reflektor (). 3. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 eller 2, karakterisert ved at det er anordnet interferensfilter (14, 1, 16) med båndpasskarak- teristikk foran detektorene (6, 7, 13) Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1, 2 eller 3, karakterisert ved at minst et gjennomgangsbånd til interferensfiltrene (16) er valgt som referansekanal slik, at det i dette båndet ikke skjer spektralselektiv absorpsjon gjennom et mediet som skal detekteres eller øvrige i målemediet omfattede komponenter.. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til 4, karakterisert ved at minst et gjennomgangsbånd til interferensfiltrene (1, 16) ligger som målekanal i det spektrale absorpsjonsbåndet til et stoff som skal påvises.

12 11 6. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til, karakterisert ved at reflektoren () tilordnet strålingskilden (4) er utformet som symmetrisk konkavspeil, særlig som samle- eller hulspeil. 7. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til 6, karakterisert ved at den første (6) og andre detektor (7) innenfor huset (2) er anordnet direkte tilstøtende ved siden av strålingskilden (4) på en slik måte, at den fra den eksterne reflektoren (8) reflekterte, buntede målestråle (11) passerer reflektoren () til strålingskilde (4) så vidt og treffer direkte på den første og andre detektor (6, 7). 8. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til 7, karakterisert ved at den eksterne reflektoren (8) er utformet som sfærisk speil, særlig som kulespeil Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til 8, karakterisert ved at reflektoren () som er tilordnet strålingskilden (4) er utformet som parabolsk speil.. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til 9, karakterisert ved at den eksterne reflektoren (8) er utformet slik, at den sender en elliptisk utformet målestråle tilbake til den første og andre detektoren (6, 7), særlig at den oppviser en astigmatisk krumning Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til, karakterisert ved at absorpsjonsrommets (9) indre vegger (17, 18) i tillegg er forspeilet og utformet slik, at en høyest mulig strålingsandel treffer på den tredje detektor (13) med få refleksjoner. 12. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 eller 11, karakterisert ved at minst en del av den indre veggen (17, 18) er elliptisk formet.

13 Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til 12, karakterisert ved at strålingskilden (4) er anordnet trykkfast i huset (2), særlig gjennom anordning av en safir-skive (3) foran absorbsjonsrommet (9). 14. Optisk analyseapparat ifølge et av kravene 1 til 13, karakterisert ved at strålingskilden (4) er utført med økt sikkerhet.

14 1/3

15 2/3

16 3/3