Formelsamling INF3400 Våren 2014 Del 1 til 8 YNGVAR BERG

Like dokumenter
UNIVERSITETET I OSLO

Oppgave 1 INF3400. Løsning: 1a Gitt funksjonen Y = (A (B + C) (D + E + F)). Tegn et transistorskjema (skjematikk) i komplementær CMOS for funksjonen.

Tips og triks til INF3400

CMOS inverter DC karakteristikker og hvordan transistorstørrelser

Del 3: Utvidet transistormodell og DC karakteristikk for inverter og pass transistor

Del 4: Moderne MOS transistor modell, transient simulering og enkle utleggsregler

Del 3: Utvidet transistormodell og DC karakteristikk for inverter og pass transistor VDD. Vinn. Vut. I. Innhold

UNIVERSITETET I OSLO

Del 3: Utvidet transistormodell og DC karakteristikk for inverter og pass transistor VDD. Vinn. Vut

EN kle modeller for MOS transistor kapasitanser gjennomgås,

UNIVERSITETET I OSLO

PENSUM INF spring 2013

EN kle modeller for MOS transistor kapasitanser gjennomgås,

IN 241 VLSI-konstruksjon Løsningsforslag til ukeoppgaver uke 36

Løsningsforslag DEL1 og 2 INF3400/4400

UNIVERSITETET I OSLO

Løsningsforslag DEL1 og 2 INF3400/4400

Del 5: Statisk digital CMOS

Del 6: Tidsforsinkelse i logiske kjeder

Obligatorisk oppgave 2 i INF4400 for Jan Erik Ramstad

INF3400/4400 Digital Mikroelektronikk Løsningsforslag DEL 8 Våren 2006 YNGVAR BERG

INF3400 Digital Mikroelektronikk Løsningsforslag DEL 8

MO deller for tidsforsinkelse i logiske porter blir gjennomgått.

GJ ennomgang av CMOS prosess, tverrsnitt av nmos- og

IN 241 VLSI-konstruksjon Løsningsforslag til ukeoppgaver 25/ uke 39

GJ ennomgang av CMOS prosess, tverrsnitt av nmos- og

MO deller for tidsforsinkelse i logiske porter blir gjennomgått.

Z L Z o Z L Z Z nl + 1 = = =

TI dsforsinkelse i kjeder med logiske porter. Beregning av

GJ ennomgang av CMOS prosess, tversnitt av nmos- og

TR ansistormodellen utvides med en modell for strøm i

TR ansistormodellen utvides med en modell for strøm i svak

INF3400/4400 Digital Mikroelektronikk Løsningsforslag DEL 13 Våren 2007

Del 9: Dynamisk CMOS

INF3400/4400 Digital Mikroelektronikk Løsningsforslag DEL 13 og 14

Forelesning 8. CMOS teknologi

Forelesning nr.10 INF 1411 Elektroniske systemer. Felteffekt-transistorer

INF3400 Del 1 Teori og oppgaver Grunnleggende Digital CMOS

Løsningsforslag Obligatorisk oppgave 1 IN241 VLSI-konstruksjon

INF3400 Uke Wire Engineering 4.7 Design Margins. INF3400 Uke 14 Øivind Næss

Lab 1 i INF3410. Prelab: Gruppe 5

HØGSKOLEN I SØR-TRØNDELAG Avdeling for teknologi

INF3400/4400 Digital Mikroelektronikk LøsningsforslagOppgaver DEL 15 Våren 2007

Del 15: Avansert CMOS YNGVAR BERG

Forelesning nr.10 INF 1411 Elektroniske systemer

INF3400 Forel. # Avansert CMOS. INF3400 Forelesning #15 Øivind Næss

INF 5460 Elektrisk støy beregning og mottiltak

Konstruksjon av gode ledninger

HØGSKOLEN I SØR-TRØNDELAG Avdeling for teknologi

Oversikt. Avansert CMOS. INF3400 Del Skalering Transistorskalering Interconnect -skalering Teknologi roadmap

Transistorforsterker

FYS1210. Repetisjon 2 11/05/2015. Bipolar Junction Transistor (BJT)

Forelesning nr.1 INF 1410

Fys2210 Halvlederkomponenter. Kapittel 6 Felteffekt transistorer

INF3400 Digital Mikroelektronikk Løsningsforslag DEL 9

Obligatorisk oppgave 4 i INF4400 for Jan Erik Ramstad

Fasit og sensorveiledning eksamen INF1411 våren Oppgave 1 Strøm, spenning, kapasitans og resistans (Vekt 20 %) A) B) Figur 1

UNIVERSITETET I OSLO

Forslag til løsning på eksamen FYS1210 våren Oppgave 1

Fys2210 Halvlederkomponenter. Kapittel 6 Felteffekt transistorer

MAKE MAKE Arkitekter AS Maridalsveien Oslo Tlf Org.nr

INF L4: Utfordringer ved RF kretsdesign

Forelesning nr.9 INF 1411 Elektroniske systemer. Transistorer MOSFET Strømforsyning

Fasit og sensorveiledning eksamen INF1411 våren Oppgave 1 Strøm, spenning, kapasitans og resistans (Vekt 20 %) A) B) Figur 1

Kontinuasjonseksamen i emne TFE4110 DIGITALTEKNIKK MED KRETSTEKNIKK. Onsdag 15. august Tid. Kl LØSNINGSFORSLAG

Fys2210 Halvlederkomponenter. Forelesning 9 Kapittel 6 - Felteffekttransistoren

TFE4101 Krets- og Digitalteknikk Høst 2016

a) Bruk en passende Gaussflate og bestem feltstyrken E i rommet mellom de 2 kuleskallene.

Oppsummering. BJT - forsterkere og operasjonsforsterkere

= 10 log{ } = 23 db. Lydtrykket avtar prop. med kvadratet av avstanden, dvs. endring ved øking fra 1 m til 16 m

Forelesning nr.6 INF Operasjonsforsterker Fysiske karakteristikker og praktiske anvendelser

Rev. Lindem 25.feb..2014

Forelesning nr.11 INF 1411 Elektroniske systemer

Kontinuasjonseksamen i emne TFE4110 DIGITALTEKNIKK MED KRETSTEKNIKK. Onsdag 15. august Tid. Kl LØSNINGSFORSLAG

Fys2210 Halvlederkomponenter. Kapittel 6 Felteffekt transistorer

Forslag til løsning på eksamen FYS1210 våren 2010

INF3400 Del 5 Statisk digital CMOS

Forelesning nr.7 IN 1080 Elektroniske systemer. Spoler og induksjon Praktiske anvendelser Nøyaktigere modeller for R, C og L

Figur 1. 1e) Uten tilkopling på inngangene A og B - Hva er spenningen på katoden til dioden D1? 1,4 volt

Løsningsforslag eksamen inf 1410 våren 2009

Mot 6: Støy i felteffekttransistorer

g m = I C / V T = 60 ms r π = β / g m = 3k3

UNIVERSITETET I OSLO

Lysdetektorer. Kvantedetektor. Termisk detektor. Absorbsjon av fotoner: Kvanterespons Termisk respons. UV MIR Fotoeffekt (Einstein, Nobelpris 1921)

Forslag til løsning på eksamen FYS1210 høsten 2005

Eksamen i emne TFE4110 DIGITALTEKNIKK MED KRETSTEKNIKK

De viktigste formlene i KJ1042

KONTINUASJONSEKSAMEN TFY4155 ELEKTROMAGNETISME Onsdag 17. august 2005 kl

Forelesning 4. Binær adder m.m.

EKSAMEN I FAG SIF4065 ATOM- OG MOLEKYLFYSIKK Fakultet for naturvitenskap og teknologi 13. august 2002 Tid:

g m = I C / V T g m = 1,5 ma / 25 mv = 60 ms ( r π = β / g m = 3k3 )

HØGSKOLEN I SØR-TRØNDELAG Avdeling for teknologi

INF3170 / INF4171. Intuisjonistisk logikk: Kripke-modeller, sunnhet, kompletthet. Andreas Nakkerud. 15. september 2015

Forslag til løsning på Eksamen FYS1210 våren 2008

UNIVERSITETET I OSLO.

LØSNINGSFORSLAG TIL KONTINUASJONSEKSAMEN I TFY4155 ELEKTROMAGNETISME Onsdag 17. august 2005 kl

LØSNINGSFORSLAG TIL EKSAMEN FY1013 ELEKTRISITET OG MAGNETISME II Fredag 9. desember 2005 kl

Forelesning nr.2 INF 1411 Elektroniske systemer. Effekt, serielle kretser og Kirchhoffs spenningslov

FYS1210 Løsningsforslag Eksamen V2017

Eksamen i TMT 4185 Materialteknologi Tirsdag 12. desember 2006 Tid:

Transkript:

1 Formelsamling INF3400 Våren 014 Del 1 til 8 YNGVAR BERG I. MOS TRANSISTORER, TABELLENE I - X Formelsamlingen inneholder de mest aktuelle konstanter Tabell II, prosessparametre Tabell III og elektriske parametre Tabell IV tilpasset en 90nm CMOS prosess. Tre ulike nivåer av transistor modeller Tabellene V-X er inkludert: 1 Enkle modeller. Egnet for enkel håndregning. Tar ikke hensyn til kanalforkortning, body effekt eller hastighetsmetning. Brukes for å modellere motstand i transistorer for bruk i RC modeller og beregning av tidsforsinkelse i porter. Vanlige modeller. Egnet for håndregning. Tar hensyn til kanalforkortning og body effekt, men ikke hastighetsmetning og svak inversjon. Kan brukes til å modellere forsterkning og støymargin. 3 Avanserte modeller. Ikke egnet for håndregning. Tar også hensyn til hastighetsmetning, svak inversjon og drain-induced barrier lowering DIBL. Funksjon Enkel Vanlig Avansert Motstand Transkonduktans Utgangskonduktans Kanalforkortning Body effekt Drain-induced barrier lowering DIBL Hastighetsmetning Svak inversjon Forsterkning Støymargin Statisk effekt Dynamisk effekt Tidsforsinkelse TABLE I BRUK AV TRANSISTOR MODELLER. Ved konstruksjon av digital integrert elektronikk er det transistorenes størrelse, se Fig. 1, som er den viktigste faktoren som avgjør den elektriske responen. 1 W er bredde på transistor. L er lengde på transistor. 3 D er utstrekningen til diffusjonssområder som typisk er lik minimum lengde på transistorer i en gitt teknologi. I tillegg er ledningsføring, både lokalt mellom porter og mellom blokker, svært viktig. I digital design er det vanlig å bruke korte transistor, dvs liten lengde, for å minimere Source Drain n + n + n + D Fig. 1. nmos transistor. tox L p Gate W Drain kapasitans og tidsforsinkelse. Bredden på transistorene som inngår i de ulike portene velges normalt slik at worst case tidsforsinkelse for svitsjing fra 0 til og fra 1 til 0 blir like. W II. MODELLER FOR TIDSFORSINKELSE I PORTER A. Dimensjonering og tidsforsinkelse Vi har ulike modeller for å beregne tidsforsinkelse for en port, se Tabell XI. I praksis ønsker vi å sammenligne med en enhetsinverter, dvs. en minimumsinverter. Det er derfor vanlig å velge transistorstørrelser slik at worst case tidsforsinkelse for opptrekk og nedrekk blir lik. Vi pleier vanligvis å velge lik transistor bredde for alle transistorer av samme type i en bestemt port. Generell metode for å dimensjonere transistorer og beregne tidsforsinkelse i en CMOS port: 1 Worst case strømvei. Finn worst case strømvei for opptrekk og nedtrekk. Det vil i praksis si den strømveien fra en utgangen til spenningsreferansene som primært vil gi størst ekvivalent motstand, og dersom flere slike strømveier finnes velges den med størst diffusjonskapasitans =parasitt eller intrinsikk kapasitans. Dimensjonering av transistorer. Velg transistor bredder slik at ekvivalent motstand i worst case for opptrekk og nedtrekk er lik motstand for en enhetsinverter. 3 Lastkapasitans. Finn last kapasitansen for opptrekk og nedtrekk. Summen av diffusjonskapasitanser, dvs. såkalte intrinsikk parasitt kapasitanser i selve porten, og gate kapasitans for porter som skal drives etterfølgende. 4 Tidsforsinkelse. Tidsforsinkelsen er lik ekvivalentmotstand multiplisert med lastkapasitans. Dersom det ikke er er spesifisert porter som skal drives, dvs gate kapasitanser, kaller vi tidsforsinkelsen parasittisk tidsforsinkelse.

B. Worst case strømvei Det er alltid fornuftig å dimensjonere en port ved å minimere worst case tidsforsinkelse. Tidsforsinkelse i en port vil være avhengig av inngangssignalene. For worst case tilfeller antar vi bestemte verdier på inngangssignaler for opptrekk og nedtrekk. C. Dimensjonering av transistorer Det er vanlig å dimensjonere transistorene i en port slik at eksvivalent motstand R ekv i nedtrekk og opprekk blir like slik at svitsjepunktet blir riktig. Dette betyr også at tidsforsinkelse for stigende og fallende utgang worst case blir svært like. I tillegg er det vanlig å dimensjonere transistorene slik at ekvivalent motstand er lik som for en minimumsinverter. Når vi dimensjonerer transistorer for en port gitt en bestemt posisjon i en kjede av porter må vi derimot ta hensyn til ekstrinsikk last. D. Lastkapasitans 1 Intrinsikk parasittkapasitans C par : Med intrinsikk parasittkapasitans menes diffusjonskapasitanser C diff i selve porten. Vi bruker vanligvis forenklet minimumskapasitans C fra Tabell IV for å beregne parasittkapasitans for en port. For en minimumstransistor får vi da et bidrag til parasittkapasitans lik C. Kapasitansverdien er proporsjonal med bredden på transistoren. For hver elektrisk node beregnes parasittkapasitans for noden. Det vil være summen av alle diffusjonskapasitanser fysisk knyttet til noden. I praksis vil det være slik at diffisjonsområdet mellom to seriekoblete transistorer vil deles av transistorene og da legges bare en C til øvrig parasittkapasitans for noden. Dette gir et realistsisk estimat for parasittkapasitans. Det som er viktig er å velge samme metode når man skal sammenligne tidsforsinkelse i ulike løsninger. Beregn total parasittkapasitans i alle noder som kan tenkes å bidra, eller kan nåes via en strømvei fra utgangen. Ekstrinsikk gatekapasitans C ekst : Med ekstrinsikk gatekapasitans C ekst menes gatekapasitanser C g for porter som skal drives etterfølgende. Vi bruker vanligvis forenklet minimumskapasitans C fra Tabell IV for å beregne ekstrinsikk gatekapasitans for en port som skal drives. Som regel bruker vi minimum lengde på alle transistorer og derfor blir kapasitansverdienpå gatekapasitans for en transistor proporsjonal med bredden på transistoren. Vi tar ikke hensyn til om transistorene som skal drives er AV eller PÅ. 3 Total lastkapasitans C L : Total lastkapasitans er summen av intrinsikk parasittkapasitanser og ekstrinsikk gatekapasitanser. Vi kan her velge ulike startegier for beregning av total lastkapasitans: Pessimistisk = worst case. Vi tar med alle intrinsikk parasittkapasitanser i alle noder som kan sees fra en utgang. Optimistisk = best case. Vi tar bare med intrinsikk parasittkapasitanser knyttet til selve utgangen. E. Tidsforsinkelse To ulike nivå er av tidsforsinkelsesmodeller er inkludert: 1 Enkel modell. Vi beregner ekvivalet motstand og total lastkapasitans for opptrekk eller/og nedtrekk. t = τ = R ekv C L. Elmore. III. TIDSFORSINKELSE I KJEDER AV PORTER Terminologi P ort Kjede Antall porter 1 N Logiskt effort g G = g i Elektrisk effort a Pessimistisk worst case. Bruker pessimistisk worst case verdi for intrinsikk parasitkapasitanser. Dette er den vanligste modellen som anvendes dersom det ikke er opplagt at andre modeller skal brukes. b Optimistisk best case. Bruker optimistisk best case for intrinsikk parasitkapasitanser, dvs. bare knyttet til selve utgangen. Brukes ved beregning av portforsinkelse ved estimering av tidsforsinkelse i kjeder av porter. Enklere enn pessimistisk modell og er derfor nyttig dersom man må frembringe et estimat raskt. c Avhengig av inngangsverdier. Intrinsikk parasittkapasitanser vil være bestemt av interne noder som kan sees fra utgangen strømveier fra utgangen. Forgreingseffort b = h = C ekstern C inngang C +C AV kjede P Å kjede C P Å kjede H = C eksternkjede C inngangkjede B = b i Effort f = gh F = GHB Effort tidsforsinkelse f D F = f i Parasittisk tidsforsinkelse p P = p i Tidsforsinkelse d = f + p D = D F + P

Når man anvender logisk effort er det vanlig å arbeide etter følgende steg: 1 Beregn kjede effort: F = GHB. Estimer minimum tidsforsinkelse: D = N F 1 N + P, der N er antall porter i kjeden i den aktuelle signalveien 3 Bestem den beste port effort: f = F 1 N. 4 Start ved kjedens utgangs og beregn bakover transistor størrelser: C inngangi = C ekstern i g i. f 3

Konstant Navn Verdi typisk Benevning Kommentar ɛ 0 Permitivitet i vakum 8.85 10 14 F/cm Farhad per cm ɛ ox Permitivitet til silisiumdioksid SiO 3.45 10 13 F/cm Farhad per cm ɛ ox = 3.9 ɛ 0 ɛ Si Permitivitet til silisium Si 1.03 10 1 F/cm Farhad per cm ɛ Si = 11.68 ɛ 0 k Boltzmanns konstant 1.380 10 3 J/K Joule per Kelvin T Temperatur 300 K Kelvin q Elementærladning 1.60 10 19 C Coulomb elektron TABLE II KONSTANTER. Parameter Navn Verdi typisk Benevning Kommentar t ox Tykkelsen på tynnoksid 1. nm Gateoksid µ n Mobilitet elektroner 100 cm / V s µ p Mobilitet hull 50 cm / V s λ n Kanallengde modulasjonsfaktor nmos transistor 0.1 λ p Kanallengde modulasjonsfaktor pmos transistor 0.1 η DIBL koeffisient 0.05 N A Dopekonsentrasjon n type silisium 8 10 17 cm 3 N D Dopekonsentrasjon p type silisium 8 10 17 cm 3 n i Konsentrasjon av frie ladningsbærere i udopet silisium 1.45 10 10 cm 3 C j Junction kapasitans uten forspenning 1. 10 15 F/µm M J Junction grading koeffisient 0.33 C JSW Side wall kapasitans uten forspenning 0.1 10 15 F/µm M JSW Side wall grading koeffisient 0.10 TABLE III PROSESSPARAMETRE. Parameter Navn Verdi typisk Benevning Betingelser Kommentar C ox Oksidkapasitans.88 10 14 F/µm C ox ɛ ox/t ox C g Oksidkapasitans 0.88 10 15 F W = 100nm L = 100nm C g = C oxw L β n 88 A/V β n = µ nc oxw/l β p 144 A/V β p = µ pc oxw/l V T Termisk spenning 6 mv V T = kt/q Φ s Substratpotensial 0.93 V γ Body effekt koeffisient 0.16 Φ s = V T ln N A ni γ = qɛ Si N A /C ox Ψ 0 Innebygd potensiale 0.7 V T = 300K Ψ 0 = V T ln N AN D n i C jbs Kapasitans per areal 1. 10 15 F/µm C jbs = C j 1 + V MJ sb Ψ 0 C jbssw Kapasitans per lengde 0.1 10 15 F/µm C jbssw = C JSW 1 + V MJSW sb Ψ 0 C diff Diffusjonskapasitans 0.08 10 15 F W = 100nm L = 100nm D = 100nm C diff = W DC jbs + W + DC jbssw C = C min Forenklet enhetskapasitans 0.88 10 15 F W = min L = min D = min C = C g = C diff TABLE IV ELEKTRISKE PARAMETRE. Parameter Navn Verdi typisk Benevning Kommentar V DD Forsynningsspenning 1. V Volt Logisk 1 V SS Jord 0 V Volt Logisk 0 gnd V g Gate terminal spenning V Volt V d Drain terminal spenning V Volt V s Source terminal spenning V Volt V b Bulk body, substrat terminal spenning V Volt V gs Spenningen mellom gate og source V Volt V gs V g V s V gd Spenningen mellom gate og drain V Volt V gd V g V d V ds Spenningen mellom drain og source V Volt V ds V d V s V sb Spenningen mellom source og bulk 0 V Volt V sb V s V b V t0n Nominell terskelspenning for en nmos transistor 0.6 V Volt V t0p Nominell terskelspenning for en pmos transistor 0.6 V Volt V dsat Metningsspenning for en transistor 0.1 V Volt V IL Høyeste inngang tolkes som logisk 0 0.15 V Volt V OL Høyesteutgang definert som logisk 0 0.05 V Volt V IH Laveste inngang tolkes som logisk 1 1.05 V Volt V OH Laveste utgang definert som logisk 1 1.15 V Volt TABLE V DEFINISJONER. 4

Modell Funksjon Verdi typisk Benevning Betingelser Kommentar V tn = V tn0 Terskelspenning 0.6 V I ds = 0 AV 0 A V gs < V tn AV I ds = β n V gs V tn V ds V ds PÅ Lineær 10 5 A V gs > V tn PÅ V ds < V gs V tn Lineær I ds = βn Vgs Vtn PÅ Metning 10 5 A V gs > V tn PÅ V ds > V gs V tn Metning R ds β n V gs V tn 1 Motstand 10 4 Ω V gs > V tn PÅ V ds < V gs V tn Lineær R min = R Enhetsmostand min 10 4 Ω Minimum TABLE VI ENKLE MODELLER FOR NMOS TRANSISTOR. Modell Funksjon Verdi typisk Benevning Betingelser Kommentar V tp = V tp0 Terskelspenning 0.6 V I sd = 0 AV 0 A V sg < V tn AV I sd = β p V sg V tn V sd V sd PÅ Lineær 10 5 A V sg > V tp PÅ V sd < V sg V tp Lineær I sd = βp Vsg Vtp PÅ Metning 10 5 A V sg > V tp PÅ V sd > V sg V tp Metning R sd β p V sg V tp 1 Motstand 10 4 Ω V sg > V tp PÅ V sd < V sg V tp Lineær R min = R Enhetsmostand min 10 4 Ω Minimum TABLE VII ENKLE MODELLER FOR PMOS TRANSISTOR. Modell Funksjon Verdi typisk Benevning Betingelser Kommentar V tn = V tn0 + γ Φ s + V sb Φ s Terskelspenning 0.6 V I ds = 0 AV 0 A V gs < V tn AV I ds = β n V gs V tn V ds V ds 1 + λ nv ds PÅ Lineær 10 5 A V gs > V tn PÅ V ds < V gs V tn Lineær I ds = βn Vgs Vtn 1 + λ nv ds PÅ Metning 10 5 A V gs > V tn PÅ V ds > V gs V tn Metning g m β nv gs1 + λ nv ds Transkonduktans 300 A/V V gs > V tn PÅ V ds > V gs V tn Metning g ds λβn V gs Utgangskonduktans 15 A/V V gs > V tn PÅ TABLE VIII VANLIGE MODELLER FOR NMOS TRANSISTOR. V ds > V gs V tn Metning Modell Funksjon Verdi typisk Benevning Betingelser Kommentar V tn = V tn0 + γ Φ s + V sb Φ s Terskelspenning 0.6 V V tn = Vtn + ηv ds Drain-induced barrier lowering DIBL 0.6 V α 1.3 L 1µm P c 1 L 1µm P v 1 L 1µm I ds0 = βvt e1.8 Strøm ved terskelspenningen 10 6 A V dsat = P v V gs V tn α Metningsspenning for hastighetsmetning 0.05 V Vgs V tn 1 V ds I ds = I ds0 e nv T e V T I ds = P c β V gs V tn β I ds = P c V gs V tn α Vds AV 10 9 A V gs < V tn 1 + λv V ds PÅ Lineær 10 5 A V gs > V tn PÅ dsat V ds < V gs V tn Lineær α 1 + λvds PÅ Metning 10 5 A V gs > V tn PÅ V ds > V gs V tn Metning TABLE IX AVANSERTE MODELLER FOR NMOS TRANSISTOR. AV 5

Modell Funksjon Verdi typisk Benevning Kommentar NM L = V IL V OL Støymargin lav 0 0.1 V NM H = V OH V IH Støymargin høy 1 0.1 V A = gm g out gm g ds Forsterkning 0 R effektiv = n i=1 R k i Motstand i n seriekoblede transistorer R for minimum transistor Ω k i er bredden på den ite. R effektiv = R1 R = R1 R R1+R Motstand i parallellkoblede transistorer Ω TABLE X CMOS PORTER. Modell Funksjon Verdi typisk Benevning Betingelser Kommentar R ekv = n i=1 R Effektiv motstand R k min Ω Worst case strømvei k i er bredden på den ite transistoren i C utgang = C diff = p i=1 k ic Diffusjonskapasitans ff F Kunn utgangen k i er bredden på den ite transistoren C par = l p j=1 i=1 k ic Diffusjonskapasitans ff F Alle interne noder k i er bredden på den ite transistoren i den jte noden C ekst = C g = l j=1 k jc Gatekapasitans ff F Porter som drives k j er bredden på den jte transistoren C L = C par + C ekst Last kapasitans ff F Pessimistisk worst case verdi t = R ekv C utgang + C ekst Tidsforsinkelse ps s Pessimistisk worst case verdi t = R ekv C L Tidsforsinkelse ps s Optimistisk best case verdi t = N i=1 C i i j=1 R j Tidsforsinkelse ps s Alle noder i en strømvei Elmore TABLE XI MODELLER FOR BEREGNING AV TIDSFORSINKELSE I PORT. 6