INF5490 RF MEMS. F11: RF MEMS kapasitanser. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

Like dokumenter
INF5490 RF MEMS. L11: RF MEMS kapasitanser

Typiske spørsmål til en muntlig eksamen i IN5490 RF MEMS, 2008

INF5490 RF MEMS. L6: RF MEMS svitsjer, II

Typiske eksamensspørsmål innen emnet INF5490 RF MEMS, våren 2007

INF5490 RF MEMS. F6: RF MEMS svitsjer, II. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF5490 RF MEMS. L8: RF MEMS svitsjer, II. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF5490 RF MEMS. F8: RF MEMS resonatorer II. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF5490 RF MEMS. L8: RF MEMS resonatorer II

INF 5490 RF MEMS. F12: RF MEMS induktanser. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF 5490 RF MEMS. L12: RF MEMS induktanser

INF 5490 RF MEMS. L14: RF MEMS induktanser. V2008, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF L4: Utfordringer ved RF kretsdesign

Forelesning nr.7 IN 1080 Elektroniske systemer. Spoler og induksjon Praktiske anvendelser Nøyaktigere modeller for R, C og L

INF5490 RF MEMS. F9: RF MEMS resonatorer III. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF 5490 RF MEMS. F15: Oppsummering, repetisjon. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

RF MEMS basiskomponenter

INF 5490 RF MEMS. L15: Oppsummering, repetisjon

INF5490 RF MEMS. F5: RF MEMS svitsjer, I. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

Forelesning nr.7 INF 1411 Elektroniske systemer. Tidsrespons til reaktive kretser Integrasjon og derivasjon med RC-krester

INF5490 RF MEMS. L9: RF MEMS resonatorer III

INF5490 RF MEMS. L5: RF MEMS svitsjer, I

INF5490 RF MEMS. L3: Modellering, design og analyse. V2008, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF5490 RF MEMS. L7: RF MEMS svitsjer, I. V2008, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

INF5490 RF MEMS. L1: Introduksjon. MEMS i RF

Forelesning nr.6 INF 1411 Elektroniske systemer. Anvendelser av RC-krester Spoler og RL-kretser

INF5490 RF MEMS. F3: Modellering, design og analyse. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

Kondensator. Symbol. Lindem 22. jan. 2012

Forelesning nr.4 INF 1411 Elektroniske systemer. Vekselstrøm Kondensatorer

INF 5490 RF MEMS. L7: RF MEMS faseskiftere. Resonatorer I

a) Bruk en passende Gaussflate og bestem feltstyrken E i rommet mellom de 2 kuleskallene.

INF 5490 RF MEMS. L10: Mikromekaniske filtre

Forelesning nr.4 INF 1411 Elektroniske systemer

INF 5490 RF MEMS. L9: RF MEMS faseskiftere. Resonatorer, I. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

Oppfinnelsens område. Bakgrunn for oppfinnelsen

Forelesning nr.4 IN 1080 Mekatronikk. Vekselstrøm Kondensatorer

Lysdetektorer. Kvantedetektor. Termisk detektor. Absorbsjon av fotoner: Kvanterespons Termisk respons. UV MIR Fotoeffekt (Einstein, Nobelpris 1921)

Forelesning nr.11 INF 1411 Elektroniske systemer

INF5490 RF MEMS. F1: Introduksjon. MEMS i RF. V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

= 10 log{ } = 23 db. Lydtrykket avtar prop. med kvadratet av avstanden, dvs. endring ved øking fra 1 m til 16 m

INF3400/4400 Digital Mikroelektronikk Løsningsforslag DEL 13 Våren 2007

Forelesning nr.6 INF 1411 Elektroniske systemer. Anvendelser av RC-krester Spoler og RL-kretser

Forelesning nr.4 INF 1411 Elektroniske systemer. Vekselstrøm Kondensatorer

Forelesning nr.5 INF 1411 Elektroniske systemer

Fys2210 Halvlederkomponenter. Forelesning 9 Kapittel 6 - Felteffekttransistoren

Forelesning nr.6 INF 1411 Elektroniske systemer

Forelesning nr.10 INF 1411 Elektroniske systemer

Forelesning nr.8 INF 1411 Elektroniske systemer

Masteroppgaver høsten 2006

Fasit og sensorveiledning eksamen INF1411 våren Oppgave 1 Strøm, spenning, kapasitans og resistans (Vekt 20 %) A) B) Figur 1

Forelesning nr.14 INF 1410

Fys2210 Halvlederkomponenter. Kapittel 6 Felteffekt transistorer

INF 5460 Elektrisk støy beregning og mottiltak

Forelesning nr.4 INF 1411 Elektroniske systemer. Vekselstrøm Kondensatorer

Forelesning nr.10 INF 1411 Elektroniske systemer. Felteffekt-transistorer

35 Z Justerbar hengsle For å få hengsle med forskjøvet bakplate selges platene løse og byttes ut med platen på 3711.

EKSAMEN FY1003 ELEKTRISITET OG MAGNETISME TFY4155 ELEKTROMAGNETISME Tirsdag 27. mai 2008 kl

UKE 5. Kondensatorer, kap. 12, s RC kretser, kap. 13, s Frekvensfilter, kap. 15, s kap. 16, s

Kondensator - Capacitor. Kondensator - en komponent som kan lagre elektrisk ladning. Symbol. Kapasitet, C. 1volt

Kondensator - Capacitor. Kondensator - en komponent som kan lagre elektrisk ladning. Symbol. Kapasitet, C = 1volt

EKSAMENSOPPGAVE. Adm.bygget, Aud.max. ü Kalkulator med tomt dataminne ü Rottmann: Matematisk Formelsamling. rute

Tolkning av måledata betinger kunnskap om egenskaper ved elektriske apparater. en kort innføring i disse for enkelte utbredte apparater

EKSAMEN I FAG SIF 4012 ELEKTROMAGNETISME (SIF 4012 FYSIKK 2) Onsdag 11. desember kl Bokmål

Forelesning nr.7 INF Kondensatorer og spoler

Elektronikk. Elektromagnetiske effekter. Elektronikk Knut Harald Nygaard 1

INF5490 RF MEMS. L1: Introduksjon. MEMS i RF. V2008, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

Mandag Ledere: Metaller. Atomenes ytterste elektron(er) er fri til å bevege seg gjennom lederen. Eksempler: Cu, Al, Ag etc.

EKSAMENSOPPGAVE. Eksamen i: FYS Elektromagnetisme Fredag 31. august 2012 Kl 09:00 13:00 adm. Bygget, rom B154

Forelesning nr.5 INF 1411 Elektroniske systemer. RC-kretser

Dusj beslag. Dette kapitelet inneholder ulike typer beslag til dusj løsninger. Hengsler 4 ulike design. Side Aluminium hel hengsle Side 11

TFY4104 Fysikk. Institutt for fysikk, NTNU. Høsten Løsningsforslag til øving 10.

Elektronikk. Elektromagnetiske effekter (3) Elektronikk Knut Harald Nygaard 1

Oppgave 1 (30%) a) De to nettverkene gitt nedenfor skal forenkles. Betrakt hvert av nettverkene inn på klemmene:

Bølgeledere. Figur 1: Eksempler på bølgeledere. (a) parallell to-leder (b) koaksial (c) hul rektangulær (d) hul sirkulær (e) hul, generell form

RF MEMS. Roar Midtflå. Master i elektronikk. Biveileder(e): Knut Nygård, Oslo University College

Laboratorieoppgave 8: Induksjon

LABORATORIERAPPORT. Halvlederdioden AC-beregninger. Christian Egebakken

Fasit og sensorveiledning eksamen INF1411 våren Oppgave 1 Strøm, spenning, kapasitans og resistans (Vekt 20 %) A) B) Figur 1

Oppsummering. BJT - forsterkere og operasjonsforsterkere

Forelesning 8. CMOS teknologi

Frivillig test 5. april Flervalgsoppgaver.

HØGSKOLEN I SØR-TRØNDELAG Avdeling for teknologi

Forelesning nr.6 INF 1411 Elektroniske systemer. Anvendelser av RC-krester Spoler og RL-kretser

LØSNINGSFORSLAG TIL EKSAMEN I FY1003 ELEKTRISITET OG MAGNETISME TFY4155 ELEKTROMAGNETISME Tirsdag 27. mai 2008 kl

Forelesning nr.8 INF 1410

Eksamen i FYS Oppgavesettet, inklusiv ark med formler, er på 8 sider, inkludert forside. FAKULTET FOR NATURVITENSKAP OG TEKNOLOGI

Elektriske kretser. Innledning

IN 241 VLSI-konstruksjon Løsningsforslag til ukeoppgaver uke 36

Forelesning nr.5 INF 1411 Elektroniske systemer. RC-kretser

UNIVERSITETET I OSLO

Brytning av strøm. - Hvordan brytes strøm? - Hvordan lages brytere? Den elektriske lysbuen, koblingsoverspenninger etc.

Forelesning nr.12 INF 1410

UKE 5. Kondensatorer, kap. 12, s RC kretser, kap. 13, s Frekvensfilter, kap. 15, s og kap. 16, s.

Studere en Phase Locked Loop IC - NE565

Fys2210 Halvlederkomponenter. Kapittel 6 Felteffekt transistorer

Laboratorieøving 1 i TFE Kapasitans

Fig 1A Ideell jord. Høyde λ/2 Fig 1D Tørr jord. Høyde λ/2. Fig 1B Ideell jord. Høyde λ/4 Fig 1E Tørr jord. Høyde λ/4

KONTINUASJONSEKSAMEN TFY4155 ELEKTROMAGNETISME Onsdag 17. august 2005 kl

INF5490 RF MEMS. L16: Trådløse systemer med RF MEMS. V2008, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO

Transkript:

INF5490 RF MEMS F11: RF MEMS kapasitanser V2007, Oddvar Søråsen Institutt for informatikk, UiO 1

Dagens forelesning Passive komponenter i RF kretser Kapasitanser, C Induktanser, L Tunbare RF MEMS kapasitanser Vertikalt tunbare kapasitanser Lateralt tunbare kapasitanser Termisk tunbare MEMS kapasitans Piezoelektrisk aktuator tunbare kapasitanser Tuning ved endring av dielektrisk materiale RF MEMS kapasitans banker 2

Passive komponenter i RF-kretser MEMS kondensatorer og spoler Aktuelle som erstatninger for tradisjonelle offchip passive komponenter Tunbarhet og programmerbarhet er ønskelig MEMS kapasitanser Enkle, tunbare kapasitanser = varactor ( variable reactor ) Programmerbare kapasitans-banker med faste C MEMS induktanser (F12) Enkle, faste induktanser Programmerbare induktans-banker med faste L 3

Bruk av tunbare kapasitanser VCO = Voltage controlled oscillator Verdien av C bestemmer frekvensen Tunes med spenning VCO har høye krav til Stabilitet Lav fase-støy Bredt frekvensområde Tunbare filtre Tunbare nettverk Impedans-tilpasning Faseskiftere 4

MEMS konkurrerer med dagens halvleder-løsninger Mange diskrete Si og GaAs varaktorer eksisterer 30 GHz Eks. Q = 30-60 for 0.5-5 GHz (SiGe) Ennå en tid før MEMS varaktorer kan erstatte GaAs varaktorer, spesielt i området under 5 GHz MEMS varaktorer har ikke hatt en like stor utvikling som MEMS svitsjer Likevel: den RF MEMS komponent som er nærmest anvendelser i markedet Forholdsvis moden teknologi Det finnes allerede mange demonstrasjoner av MEMS erstatnings-komponenter, DC 100 GHz 5

MEMS varaktorer + Har potensial for høye Q-verdier Høy Q-verdi (>100) over et bredt frekvensbånd Q = 100 400 for mm-frekvenser + Enkelhet, sammenlignet med konkurrerende teknologier + Kan tåle store RF spennings-sving + Kan produseres billig på glass, keramikk, høyresistivitets Si-substrat For eksempel for lav-kost 3 60 GHz tunbare nettverk og filtre + Mer pålitelig + Enkel og billig pakking 6

Hvorfor etterstrebes høy Q-verdi? Q-faktor karakteriserer tap pga. effekt-dissipering i elementet Q bør være størst mulig for å redusere Insertion loss 7

Korrelasjon mellom Q-faktor og oscillator-stabilitet Q-faktoren er helt sentral når det gjelder RF krets-ytelse! 8

Ekvivalentkrets for kapasitans Ved høye frekvenser induktans har en karakteristisk selvresonansfrekvens Induktansen bør holdes så lav som mulig slik at selvresonans ligger mye høyere enn bruksområdet 9

Impedans og Q-faktor til en diskret kondensator Q-faktor angis for ωl<<1/ωc Rebeiz 10

11

12

Utfordringer for RF MEMS kapasitanser Tunbarhetsområdet for MEMS varaktorer er lite 1.2 2.5 Tilsvarende for halvleder-varaktorer 4 6 Oppnå tilstrekkelig Tuning Range (TR) Definisjon TR: C max C min Bør være > 2 MEMS er følsom for ulike støyeffekter som gjør seg gjeldende ved lav fjærkonstant, k Lav k er ønskelig for 3 5 V anvendelser Er problematisk pga. Aksellerasjon, RF power selv-aktivering, støy-effekter 13

Parallell plate kondensator Grunnleggende ligninger Q = V C, I = C dv/dt C = ε A / g NB! C kan generelt tunes ved hjelp av 3 parametre g, gap A, areal ε, dielektrisitetskonstant 14

Tunbare RF MEMS kapasitanser Elektrostatisk aktivering er en dominerende mekanisme for tuning Lavt effektforbruk, enkelhet Vertikal elektrostatisk forskyvning Tuning av gapet (ikke-lineær endring) i parallell plate kondensator 2-plate kapasitans 3-plate kapasitans Dobbelt luft-gap kapasitans Andre eksempler Horisontal (lateral) forskyvning Tuning av arealet (lineær endring) Termisk tunbare MEMS kapasitans Piezoelektrisk aktuator tunbare kapasitanser Tuning ved endring av dielektrisk materiale 15

To-plate tunbar MEMS kapasitans Young & Boser, Berkeley Gap-tuning Den ene platen kan beveges ved elektrostatisk aktivering Opererer under likevekt mellom elastiske og elektriske krefter 16

Beregning av TR for 2-plate kapasitans 1 Teoretisk TR = 150%. Begrenset av pull-in effekten 17

Young & Bover, Berkeley Etsing av hull i kapasitansplaten For mindre demping (squeezed-film damping) Positivt for release -trinnet i en prosess Varadan 18

Implementasjon Typiske trekk fra implementasjoner ved Berkeley Overflate mikromaskinering 2 metall-lag + Al jordplan LTO = Low temperature oxide 19

3-plate tunbar MEMS kapasitans TR kan utvides ved å introdusere en 3dje plate A. Dec & K. Suyama: Micromachined Electro-Mechanically Tunable Capacitors and Their Applications to RF IC s 1998. Columbia University 20

Beregning av TR for 3-plate TR = 200%, dvs.: kan tunes 100% 21

Demonstrerte verdier, Dec & Suyama: 22

Rebeiz: Dec & Suyama 23

Dec & Suyama, forts. Prosess Standard 3-lags poly overflate mikromaskinering (MUMP s) med HF etsing og supercritical drying Poly brukes ofte som parallell plate selv om den har mindre konduktivitet enn Al pga. overlegne mekaniske egenskaper 24

Dec & Suyama, eks2 Rebeiz 25

Dobbelt luft-gap kapasitans J. Zou et al, 2000, Univ of Illinois Hensikt med dobbelt luft-gap Øke TR Eliminere virkningen av pull-ineffekten Kan trekke ned til 1/3 d2 før pull-in inntrer TR kan økes betraktelig hvis 1/3 *d2 > d1 Dvs. midtelektroden kan trekkes helt ned uten å erfare pull-in! 26

Univ of Illinois, forts. 27

Univ of Illinois, forts. Forenklet fabrikasjonsprosess - Kobber som offer-lag - Metaller: gull & permaloy (Ni-Fe) - Luft-gap: d1 = 2 µm, d3 = 3 µm 28

Eks fra Univ of Michigan Rebeiz 29

Eks fra Univ of Michigan, forts. Realisert på kvarts-substrat SiO2 offerlag etses delvis 2-trinns Au membran Q = 120 @ 34 GHz 30

Univ of Michigan, diskret 2-verdi 31

Multi-state MEMS kapasitanser med multi luft-gap Eks fra Nokia Nieminen Ulike segmenter med multi-gap Kan tunes i trinn 2 eller 3 trinns Kretsen oppviser hysterese-egenskaper 32

Ionescu, EPFL: H. Nieminen et al 33

Prinsipp-skisse: 34

Glidelås -kapasitans Eks. på glidelås cantilever kapasitans Design og fabrikasjon ved Columbia University Lang, tynn bjelke legger seg ned fra enden Små kapasitans-bidrag legges til i parallell 35

Eks fra MIT Mykest nær endepunktet Rebeiz 36

Univ of Colorado, Boulder Digitalt kontrollerte enkelt-kapasitanser Har individuelle plater som kan trekkes ned etterhvert Varadan 37

Univ of Colorado, Boulder Hver plate koblet med forskjellig bredde på bjelken, dvs.ulik fjærkonstant for hver del Standard MUMP s prosess (poly-si og gull), alumina-substrat Elektrostatisk aktivering V= 30 V TR = 4 : 1 Q = 140 @ 750 MHz 38

Elevert plattform kapasitans L. Fan et al, 1998 En av elektrodene kan heves opp til flere hundre mikrometer over substratet 250 µm elevasjon, TR 2400% Vanskelig å oppnå fin-tuning Benytter aktuator som skyver strukturen sammen Scratch drive actuator Må realisere hengsler 39

Ionescu, EPFL 40

Selvaktivering Må konstruere slik at parallell plate kapasitansene kan behandle RF power AC spenning påtrykkes RF MEMS kapasitansen RF frekvensen modulerer ikke C-verdien MEN, RMS-verdien av RF-signalet vil influere C og kan indusere pull-in ved selvaktivering Kapasitanser for gap-tuning har begrenset RF power handlings-mulighet pga. lite elektrodegap Reduksjon av avstand RF breakdown 41

Lateralt tunbare kapasitanser Horisontal bevegelse C kan tunes ved å variere arealet, C = ε A / g + Ingen teoretisk grense for TR + Unngår pull-in-effekten Fotolitografi bestemmer presisjon av avstander Mer kompliserte opphengs-strukturer? Må sikre at den bevegelige strukturen henger oppe Kamstruktur er vanlig 42

Ionescu, EPFL: J. J. Yao et al, Rockwell 43

Enkel kam-struktur Eks fra Rockwell Science Center Inter-digital tunbar MEMS kapasitans Et sett kammer er stasjonære, det andre settet kan beveges Gapet forblir uendret Lengden av kammen begrenser tuning range Tuning ved elektrostatisk mikromotor eller ulike akviverings-spenninger 44

Rockwell Science Center, forts. Eks fra tuning Varadan 45

Rockwell Science Center, forts. Rebeiz 46

Rockwell Science Center, forts. Rebeiz 47

Termisk tunbar parallell-plate MEMS kapasitans Benytter varme og kalde armer En høy-resistivitets-arm vil bli varmere og vil deformeres mer Differensiell termisk ekspansjon Ulempen med teknikken Effekt-dissipasjon Lav hastighet Men fjerner pull-in-begrensningen 48

Z. Feng et al, Univ of Colorado Design and Modeling of RF MEMS Tunable Capacitors Using Electro-thermal Actuators Zhiping Feng, Wenge Zhang, Bingzhi Su, Kevin F. Harsh, K. C. Gupta, V. Bright, and Y. C. Lee C AMPmode University of Colorado at Boulder Boulder, CO 80309-0425 49

Univ of Colorado, forts. Rebeiz 50

Ionescu, EPFL Temperaturdifferansen forårsaker en vertikal bevegelse 51

Elektro-termisk tuning Varadan 52

Piezoelektrisk tuning En bias spenning forårsaker vertikal bevegelse av kondensator-platen + Lav drive-spenning + Lineær tuning av kapasitans 53

To av bjelkene forlenges Rebeiz 54

Rebeiz 55

Dielektrisk tunbare kapasitanser Endring av materialegenskapene mellom platene DC bias spenning kan endre de elektriske egenskapene Dielektrisitets-laget Dielektrisitetskonstanten, ε Ferro-elektriske tynn-filmer, Var fig. 4.48 56

Varadan 57

University of Michigan Bevegelig dielektrisk membran mellom faste plater, maskerer det effektive arealet. Univ of Michigan Rebeiz 58

Univ of Micigan, forklaring Prinsipp: både topp og bunn er rigide Tuning oppnås ved en bevegelig dielektrisk membran (høy-k = ε) som er elektrostatisk drevet Ytelsesparametre IC kompatibel teknologi (<200 C), post CMOS Elektroplettert metall + overflate mikromaskinering Bevegelig dielektrisk membran av Nitrid Ingen pull-in effekt Lav aktiveringsspenning < 10 V med k= 0.187 N/m TR = 40% Q = 218 @ 1 GHz for C = 1.14 pf design (noe av det høyeste som er rapportert!) 59

Univ of Micigan, forts. Rebeiz 60

RF MEMS kapasitans-banker Bruk av programmerbare kapasitans-banker Har array av faste kapasitanser Innkobling av ønsket C-verdi MEMS svitsjer benyttes for innkobling Kan programmeres ved et digitalt signal Både serie- og shunt-konfigurasjoner er mulig 61

Ionescu, EPFL 62

Eliminere virkning av termisk stress Et eksempel H. Nieminen et al: Design of a Temperature- Stable RF MEMS Capacitor, J MMSyst, vol 13, no 5, 2004: Legge kapasitansen inn i en ramme-struktur Bruke rammen for å kompensere for det termisk induserte stresset Feste kapasitansen slik at når rammen blir deformert, så får en minimale stress-effekter på selve kapasitansen f.eks. hjørnene beveger seg lite feste kapasitansen i hjørnene! 63

64

65